• العنوان: .reliability and degradation:semiconductor devices and circuits howes,m.j.(ed.) morgan,d.v. (jt.ed.)
  
• رقم التسجيل : 250538
  
• رقم التصنيف: .621.38152 RA 4
  
• المؤلف: reliability and degradation
  
• الطبعة: 1st ed
  
• مكان النشر والناشر: .N.Y. Wiley,J.
  
• تاريخ النشر: c1981
  
• عدد النسخ: 1
  
• رؤوس الموضوعات: /semiconductors-reliability/
  

 

 

مساعدة - بحث جديد - الصفحة الرئيسية - English

نسخة تجريبية

 

 

 

 

 

 

 

© جميع حقوق النشر محفوظة لجامعة بغداد / الامانة العامة للمكتبة المركزية 2012