جامعة بغداد / الامانة العامة للمكتبة المركزية

العنوان: .reliability and degradation:semiconductor devices and circuits morgen,d.v. (jt.ed.)
رقم التسجيل : 192025
رقم التصنيف: .621.38152 H859R
المؤلف: howes,m.j. (ed.)
الطبعة: 1st ed)
مكان النشر والناشر: .Chichester Wiley
تاريخ النشر: 1981
عدد النسخ: 1
رؤوس الموضوعات: /semiconductors/