جامعة بغداد / الامانة العامة للمكتبة المركزية

العنوان: .reliability and degradation:semiconductor devices and circuits. howes,m.j.
رقم التسجيل : 250538
رقم التصنيف: .621.38152 RA.4.
المؤلف: reliability and degration
الطبعة: 1st.ed
مكان النشر والناشر: .Newéyork Wiley,J.
تاريخ النشر: 1981
عدد النسخ: 2
الرقم الدولي: 0-471-28028-3
رؤوس الموضوعات: /semiconductors-reliability./